真空蒸發(fā)鍍膜(mó)機(jī)加工過程中(zhōng)的真空條件(jiàn)

發布時間:2023-03-03瀏覽量:7475

   真空蒸發鍍(dù)膜機(jī)設備運行過程中,從膜材表麵蒸發的粒子以一定的速(sù)度在(zài)空間沿(yán)直線運(yùn)動,直到與其他粒(lì)子碰撞為(wéi)止(zhǐ)。在真空室內,當氣相(xiàng)中的粒子濃度和殘餘氣體的壓力足夠低時,這些粒子從蒸發源(yuán)到基片之間(jiān)可以保持直線(xiàn)飛行,否則,就會產生碰撞而改(gǎi)變運(yùn)動方向。為此,增加殘餘氣體(tǐ)的平均自由程,以減少其(qí)與蒸發粒子的碰(pèng)撞幾率(lǜ),把真空室內(nèi)抽成高真(zhēn)空是必要的。


 

   當真空容器內(nèi)蒸(zhēng)發粒子(zǐ)的(de)平均自由程大於蒸發源與基片的距離(lí)(以(yǐ)下稱蒸距)時,就會獲(huò)得充分的真空條件。設蒸距(蒸發源與基片的距離)為L,並把L看成是蒸發粒子已(yǐ)知的實際行程,λ 為氣體分子的平均自由程,設從蒸發源蒸發出來的蒸汽分子數為(wéi)N0,在相距為(wéi)L 的蒸發源與基片之間發生碰撞而散射的蒸汽分子(zǐ)數為N1,而且假設蒸發粒子主要與殘餘(yú)氣體的原子或分子碰撞(zhuàng)而散射,則有
  N1/N0= 1- exp(L/λ) (1)

  在室溫(25℃)和氣體壓力為p(Pa)的條件下,殘餘氣體(tǐ)分子的平均自由程為
  λ = 6.65×10-1/pcm (2)

  由上式計算可(kě)知,在室(shì)溫下,p=10-2 Pa 時(shí),λ=66.5 cm,即一個(gè)分子在與(yǔ)其它分子發生兩次(cì)碰撞之間約飛行66.5 cm。


 

   是蒸發(fā)粒子在飛向基片途中發(fā)生碰撞的比例與氣體分子的實際路程(chéng)對平均自由程之比值的曲線。從圖中可以看出,當λ=L 時,有63%的蒸發分子會發(fā)生碰撞。如果(guǒ)平(píng)均自由程增加10 倍,則散射的粒子數減少到9%,因此,蒸發粒子的平均自由程必須(xū)遠遠大於蒸距才能避免蒸發粒子在向基片遷移過程中與殘餘氣體(tǐ)分子(zǐ)發生碰撞,從而有效(xiào)地減少蒸發粒子的(de)散射現象。目前常用(yòng)的蒸發鍍膜機的蒸距均不大於50 cm。因此,如果要防止蒸發粒子的大量散射,在(zài)真空蒸發鍍膜設備中,真空鍍膜室的起始真空(kōng)度必須高於10-2 Pa。


 

  由於殘餘氣體在蒸鍍過程(chéng)中對膜層的影響很大,因此分析(xī)真空室內殘餘氣體的來源(yuán),借以消除殘(cán)餘氣體對薄膜質量的影響是重(chóng)要的。真空室中殘餘氣體分子的(de)來源主要是真空鍍膜室內表麵上的解吸放氣、蒸發源釋放的氣體、抽氣係統的返流以及設備的漏(lòu)氣等原因所造(zào)成的(de)。若鍍膜設備的結構設計及製造良好,則真空抽氣係統(tǒng)的返流及設備的(de)漏氣並不會造成嚴重的影響。表l 給出了真空鍍(dù)膜室壁上單(dān)分子層所吸(xī)附的分子數Ns 與氣相中分子數N 的比值近似值。通(tōng)常在常用的高真空(kōng)係統中,其內表麵上所吸附的(de)單層分子數,遠遠超過氣相中的分(fèn)子數。因此(cǐ),除了蒸發源在蒸鍍過程中所釋放(fàng)的(de)氣體外(wài),在(zài)密封和抽氣係統性能(néng)均良(liáng)好和清潔的真空係統中,若氣壓處於10- 4 Pa 時,從真空室壁表麵上解吸(xī)出來的氣體分子就是真空係統內的(de)主要氣體來源。


 

  A-鍍膜室的內表麵積,cm2;V-鍍膜室(shì)的容積,cm3;ns-單分子層內吸附分子數,個(gè)/cm2;n-氣相(xiàng)分子數,個/cm3


 

  殘餘氣體分子撞擊著真空室內的所有表麵(miàn),包括正在(zài)生長著(zhe)的(de)膜層表麵。在室溫和10-4 Pa 壓力下的空氣環境中,形(xíng)成單一分子層吸附所需的時間隻有(yǒu)2.2 s。可見,在蒸發鍍膜過程中,如果要獲得(dé)高純度的膜層,必須(xū)使膜材原子或分子到達基片上的速率大(dà)於殘餘氣體到達基片上的速率,隻有這樣才能製備出純度好的(de)膜層。這一點對於活性金屬材料基片更為重要(yào),因(yīn)為這些金屬材料的清潔表麵的粘著係數(shù)均接近於1。


 

   在10-2 Pa~10-4 Pa 壓(yā)力(lì)下蒸發時,膜材蒸汽分子與殘餘氣體(tǐ)分子到達基片上的數量大致相等,這必將影響製備的膜層(céng)質量。因此需要合理設計鍍膜設備的抽氣係統,保證膜材蒸汽分子到達(dá)基片表麵的速率高於殘餘氣體分子到達的速率,以減少殘餘氣體分子(zǐ)對膜層的撞擊和汙染,提高膜層的純度。


 

   此外,在10-4 Pa 時真空室內殘餘氣體的主要組分(fèn)為水蒸氣(約占(zhàn)90%以上),水氣(qì)與金屬膜層或蒸發(fā)源均會發生化(huà)學(xué)反應,生成氧化物而釋放出氫氣。因此,為了減少殘餘氣體中的水(shuǐ)分,可以提高真空室內的溫度,使水分解,也是提(tí)高膜層質量的一種有效辦法。


 

  還應注意蒸發源在高(gāo)溫下的放氣。在蒸發源通電加(jiā)熱之前,可先用擋板擋住基片,然後對膜材加熱去氣。在正式鍍膜開始時再移開擋板。利(lì)用該方法,可有效提高膜層的質量。


 

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